第29章 “麻雀 Rev B”的诞生？硅片归来！[第1页/共3页]

这个过程需求极高的精度和耐烦。林轩和陈家俊、顾维钧等人轮番操纵着那台半主动的探针台，眼睛紧盯着显微镜和ATE屏幕上跳动的数据。

起首是晶圆测试（Wafer Sort / Wafer Probe）。需求将整片晶圆牢固在探针台（Probe Station）上，然后用极其紧密的探针，打仗到每一个Die上的测试焊盘（Test Pad），通过主动测试设备（ATE）运转预先编写好的测试法度，对每个Die停止开端的服从和电参数遴选，标记出能够见效的Die。

林轩的内心，也经历了一次过山车。从最后的冲动，到发明题目后的担忧，再到最后的沉着。他晓得，这在芯片研发中实在是很常见的环境，第一次流片就能完美无瑕几近是不成能的。关头在于，接下来的调试（Debugging）事情！

开端测试成果很快出来了，有好动静，也有坏动静。

紧接着，对PLL模块的测试也发明了题目。在尝试将体系时钟锁定到设想目标的最高频次时，PLL呈现了不稳定的颤栗（Jitter），乃至在某些电压或温度前提下，会直接失锁（Loss of Lock）！这意味着芯片能够没法稳定运转在最高机能形式下。

随后，对电源办理单位（PMU）的测试也发明，其内部的DC-DC转换效力略低于设想目标，导致芯片在某些高负载事情形式下的功耗，能够比预期要高一些。

“现在，我们面对的题目很明白：音频噪声、PLL不稳定、功耗偏高。”他指着白板上方才记录下的题目点，“这些都是硬骨头，但并非没法处理！接下来，我们要立即建立调试攻关小组，由家俊哥、顾博士、志远牵头，集合统统资本和聪明，尽快找出这些题目的本源，并找到处理计划！”

“解码……根基普通！但是……”卖力音频测试的工程师眉头皱了起来，“输出信号的信噪比（SNR）仿佛比我们仿真成果要低一些，并且仿佛存在一些微小的高频噪声……”

连接好电源，翻开示波器、逻辑阐发仪、音频阐发仪等各种测试设备。

核心技术团队的成员们立即行动起来。他们穿上防静电服，戴上口罩和手套，谨慎翼翼地将一个晶圆盒捧进了那间颠末简朴改革、但也装备了需求设备的测试尝试室。

坏动静是，通过开端遴选的“良品”Die（Good Die）的比例，仿佛低于预期。在一片晶圆上，约莫只要60%-70%的Die能够通过统统根本测试，这意味着初始良率（Yield）并不算高。并且，即便是这些“良品”Die，其某些关头电参数（如泄电流、事情频次的开端测试成果）也闪现出必然的离散性，表示着能够存在一些设想或工艺上的边沿题目（marginality）。

林轩强压下内心的冲动，亲身签收了包裹。他谨慎翼翼地翻开层层庇护包装，暴露了内里几个玄色的、圆形的晶圆盒（Wafer Cassette）。透过透明的盒盖，能够看到内里叠放着的一片片闪动着金属光芒的、薄薄的硅晶圆。每一片晶圆上，都整齐地摆列着数百个藐小的、肉眼几近看不清的方形Die（裸片），那就是他们日夜奋战的服从——“麻雀 Rev B”芯片！